一种太赫兹波探测装置和太赫兹波探测仪
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摘要

本实用新型适用于光谱探测技术领域,提供了一种太赫兹波探测装置和太赫兹波探测仪,太赫兹波探测装置包括飞秒激光器、第一分束器件和第二分束器件、光路调整组件、太赫兹波发射器件和太赫兹波接收器件,飞秒激光器产生的飞秒激光,经过第一分束器件分为太赫兹发生光和抽运光,太赫兹发生光经过第二分束器件分为产生光和探测光。抽运光照射样品,用于使样品处于激发态,产生光和探测光按照一定的延迟分别辐射至太赫兹波发射器件和太赫兹波接收器件,产生的太赫兹波照射样品后被太赫兹波接收器件接收,对样品的瞬态吸收光谱进行探测,进而获得样品中的非平衡载流子分布的动力学过程,同时大大简化了太赫兹波探测装置的光路结构。

基本信息
专利标题 :
一种太赫兹波探测装置和太赫兹波探测仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921842669.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-30
授权号 :
CN211426266U
授权日 :
2020-09-04
发明人 :
郭翠薛占强潘奕
申请人 :
深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;深圳市太赫兹系统设备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东
代理机构 :
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 :
袁哲
优先权 :
CN201921842669.X
主分类号 :
G01N21/3581
IPC分类号 :
G01N21/3581  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3581
利用远红外光;利用太赫兹辐射
法律状态
2020-09-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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