雷达物位计双通路结构及包括其的雷达物位计

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摘要

本实用新型提供了一种雷达物位计双通路结构及包括其的雷达物位计，涉及雷达物位计技术领域，解决了现有技术中雷达物位计测量近端可靠性低的技术问题。包括壳体，所述壳体内形成相互隔离的发射通路和接收通路，所述发射通路包括发射波导段和发射天线段，所述发射波导段和所述发射天线段相互连通，所述接收通路包括接收波导段和接收天线段，所述接收波导段和所述接收天线段相互连通，所述壳体的第一端设置有连接部。本实用新型用于雷达物位计提供相互独立的发射和接收通路，以提高检测的精度。

基本信息

专利标题：

雷达物位计双通路结构及包括其的雷达物位计

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921852209.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-30

授权号：

CN210664665U

授权日：

2020-06-02

发明人：

呼秀山夏阳

申请人：

北京锐达仪表有限公司

申请人地址：

北京市通州区中关村科技园区通州园金桥科技产业基地景盛南四街15号92B

代理机构：

北京细软智谷知识产权代理有限责任公司

代理人：

张合成

优先权：

CN201921852209.5

主分类号：

G01F23/284

IPC分类号：

G01F23/284