雷达物位计及测量系统
授权
摘要
本公开提供了一种雷达物位计，包括：微波电路板，微波电路板上设置有微带天线；微波透镜，微波透镜用于会聚微带天线发射的微波发射波束，以及用于将反射的微波反射波束会聚至微带天线；其中，雷达物位计在微带天线与微波透镜之间不包括圆波导结构，微带天线发射的微波发射波束直接发射至微波透镜。本公开还提供了一种测量系统。
基本信息
专利标题 ：
雷达物位计及测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021033790.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-08
授权号 ：
CN212458549U
授权日 ：
2021-02-02
发明人 ：
呼秀山夏阳
申请人 ：
呼秀山;夏阳
申请人地址 ：
北京市朝阳区甘露园南里25号院7楼1908号
代理机构 ：
北京庚致知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李伟波
优先权 ：
CN202021033790.0
主分类号 ：
G01F23/284
IPC分类号 ：
G01F23/284
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01F
容积、流量、质量流量或液位的测量；按容积进行测量
G01F23/00
液体液面或流动的固态材料料面的指示或测量，例如，用容积指示，应用报警装置的指示
G01F23/22
通过测量除线性尺寸、压力或重量以外的其他与被测液面有关的物理变量，例如，通过测量蒸汽或水传热的差异
G01F23/28
通过测量直接施加到液体或流动的固态材料上的电磁波或声波参数的变化
G01F23/284
电磁波
法律状态
2021-02-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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