物位计及测量系统
授权
摘要
本公开提供了一种物位计，包括天线，该天线包括：至少一个发射天线，用于形成发射波，其中发射波经由对象反射而形成回波；以及两个以上的接收天线，用于接收来自一个对象反射而形成的回波信号，其中两个以上的接收天线的波瓣角度设置为彼此不同，从而基于两个以上的接收天线所接收的回波信号的能量差值、以及回波信号的距离，来确定一个对象的角度。本公开还提供了一种测量系统。
基本信息
专利标题 ：
物位计及测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021275514.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-03
授权号 ：
CN212458550U
授权日 ：
2021-02-02
发明人 ：
呼秀山夏阳
申请人 ：
呼秀山;夏阳
申请人地址 ：
北京市朝阳区甘露园南里25号院7楼1908号
代理机构 ：
北京庚致知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李伟波
优先权 ：
CN202021275514.5
主分类号 ：
G01F23/284
IPC分类号 ：
G01F23/284
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01F
容积、流量、质量流量或液位的测量；按容积进行测量
G01F23/00
液体液面或流动的固态材料料面的指示或测量，例如，用容积指示，应用报警装置的指示
G01F23/22
通过测量除线性尺寸、压力或重量以外的其他与被测液面有关的物理变量，例如，通过测量蒸汽或水传热的差异
G01F23/28
通过测量直接施加到液体或流动的固态材料上的电磁波或声波参数的变化
G01F23/284
电磁波
法律状态
2021-02-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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