一种物料高度监控系统
授权
摘要
为解决现有的放射性料位计结构比较复杂、成本较高的技术问题，本实用新型提供了一种物料高度监控系统，设计了特殊的硬件架构以及移动控制平台，采用两组同步动作的导轨滑块机构或者丝杠螺母机构，实现了中子源与探测器同步移动追踪物料料面，探测器采集到中子数后利用现有的计算方法，即能够实现物料料面高度的测量，在测量时只需要将装有被测物料的容器固定在测量平台上即可，不涉及监控系统与容器之间的复杂的安装定位问题。
基本信息
专利标题 ：
一种物料高度监控系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921858497.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-31
授权号 ：
CN210862839U
授权日 ：
2020-06-26
发明人 ：
滕宇超王智健
申请人 ：
西京学院
申请人地址 ：
陕西省西安市长安区西京路1号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
王凯敏
优先权 ：
CN201921858497.5
主分类号 ：
G01F23/288
IPC分类号 ：
G01F23/288
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01F
容积、流量、质量流量或液位的测量；按容积进行测量
G01F23/00
液体液面或流动的固态材料料面的指示或测量，例如，用容积指示，应用报警装置的指示
G01F23/22
通过测量除线性尺寸、压力或重量以外的其他与被测液面有关的物理变量，例如，通过测量蒸汽或水传热的差异
G01F23/28
通过测量直接施加到液体或流动的固态材料上的电磁波或声波参数的变化
G01F23/284
电磁波
G01F23/288
X射线；γ射线
法律状态
2020-06-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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