一种O形密封圈多因子老化试验平台

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摘要

本实用新型公开了一种O形密封圈多因子老化试验平台，所述老化试验平台包括包括老化罐、与老化罐配套使用的智能老化箱和超温保护器；老化罐包括至少1个法兰组、底座和顶盖，法兰组内设置有安装O形密封圈的密封槽，智能老化箱包括箱体、电源开关、升温系统、盐雾系统、鼓风系统和控制系统；超温保护器包括与之相连的测温探头，超温保护器位于智能老化箱与外接电源之间。本试验平台结构简单、运行安全，可在热、挤压、被密封气体、湿、盐、表面涂覆物等多因子条件下，同时对多个O形密封圈进行老化，老化后可以在不分离O形密封圈和法兰的情况下测量O形密封圈的泄漏率，对O形密封圈的寿命预测具有重要意义。

基本信息

专利标题：

一种O形密封圈多因子老化试验平台

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921860408.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-31

授权号：

CN211292499U

授权日：

2020-08-18

发明人：

张智敏郝艳捧彭家豪阳林高超周福升王国利李立浧

申请人：

华南理工大学;南方电网科学研究院有限责任公司

申请人地址：

广东省广州市天河区五山路381号

代理机构：

广州粤高专利商标代理有限公司

代理人：

何淑珍

优先权：

CN201921860408.0

主分类号：

G01N17/00

IPC分类号：

G01N17/00