密封圈径向静密封老化试验装置

授权

摘要

本实用新型属于密封圈寿命试验领域，涉及一种密封圈径向静密封老化试验装置，其包括内筒、外筒和内筒端盖。内筒为空心圆柱体结构，其第二凸体和第一凸体依次设置在第一筒身的第一端；第一筒身的第二端内部设置第一凹槽，用于内筒间相互配合；第二凸体用于安装被试密封圈。外筒为空心圆柱体结构，套设在内筒的外部。内筒端盖包括第二筒身和限位台，第二筒身为空心圆柱体结构，限位台设置在第二筒身的外表面；第二筒身的第二端内部设置第二凹槽，其能够安装在第一凸体上；螺栓能够穿过内筒和内筒端盖，并通过螺母紧固。本实用新型可以使被试密封圈的安装形式与实际工况一致，且能够满足多个样本同时试验。

基本信息

专利标题：

密封圈径向静密封老化试验装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022031922.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-15

授权号：

CN212748299U

授权日：

2021-03-19

发明人：

滕明边智宋超韩占杰聂扬张哲

申请人：

中国航空综合技术研究所

申请人地址：

北京市朝阳区东直门外京顺路7号

代理机构：

北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

刘翠芹

优先权：

CN202022031922.2

主分类号：

G01M13/005

IPC分类号：

G01M13/005