一种温度采样控制系统
授权
摘要

本实用新型提供一种温度采样控制系统,包括:供电模块、多通道温度模拟采样模块、模拟选择开关、隔离模块、控制器和外设电路;所述供电模块,用于为所述模拟选择开关、隔离模块、控制器供电;所述多通道温度模拟采样模用于采集多路温度模拟量;模拟选择开关用于将其中一个模拟采样通道的温度模拟信号输入至所述隔离模块;隔离模块将所述温度模拟信号传输至所述控制器;控制器用于根据接收的温度模拟信号发送控制指令至所述外设电路,该系统采用多通道模拟隔离型采样系统,从而解决现有方法容易受到电网的电磁干扰或能量脉冲干扰,进而影响温度采样的准确性、安全性和可靠性的问题。

基本信息
专利标题 :
一种温度采样控制系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921963918.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-13
授权号 :
CN210488290U
授权日 :
2020-05-08
发明人 :
刘涛
申请人 :
上海艾临科智能科技有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区嘉罗公路1719号45幢
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
董艳芳
优先权 :
CN201921963918.0
主分类号 :
G05B19/042
IPC分类号 :
G05B19/042  H02J3/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G05
控制;调节
G05B
一般的控制或调节系统;这种系统的功能单元;用于这种系统或单元的监视或测试装置
G05B19/00
程序控制系统
G05B19/02
电的
G05B19/04
除数字控制外的程序控制,即顺序控制器或逻辑控制器
G05B19/042
使用数字处理装置
法律状态
2020-05-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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