一种温度采样装置

授权

摘要

本申请实施例提供一种温度采样装置，涉及温度检测技术领域。该温度采样装置包括温度采样电路、第一处理芯片、第二处理芯片和隔离器，所述温度采样电路用于采集受检测器件的温度，并生成温度模拟信号；所述第一处理芯片与所述温度采样电路连接，用于接收所述温度模拟信号，并将所述温度模拟信号转换为温度数字信号；所述第二处理芯片通过所述隔离器与所述第一处理芯片连接，用于接收所述温度数字信号；所述隔离器用于隔离所述第一处理芯片和所述第二处理芯片。该温度采样装置可实现提高温度采样的可靠性和稳定性的技术效果。

基本信息

专利标题：

一种温度采样装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922230285.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-11

授权号：

CN210981570U

授权日：

2020-07-10

发明人：

刘涛

申请人：

上海艾临科智能科技有限公司

申请人地址：

上海市嘉定区嘉罗公路1719号45幢

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

李飞

优先权：

CN201922230285.9

主分类号：

G01K7/16

IPC分类号：

G01K7/16