一种新型低本底α、β测量仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种新型低本底α、β测量仪,包括钢壳、第一电缸和第二电缸,所述第一电缸通过螺栓安装于钢壳的内壁,所述第一电缸的输出端安装有连接块,所述连接块的中部对称开设有两组安装孔,两组所述安装孔的内壁均螺纹连接有环形毛刷,所述钢壳的两侧壁之间滑动连接有铅室,所述铅室的上部通过螺栓对称安装有两组主探测器,两组所述主探测器分别与两组所述环形毛刷相对,所述铅室的下部通过螺栓安装有反符合探测器,所述第二电缸通过螺栓安装于钢壳的侧部,所述第二电缸的输出端贯穿钢壳的侧壁与铅室相连。本实用新型简单便捷的实现对主探测器表侧进行清洁,避免直接人工清洁,利用机械的方式推出铅室,方便操作。
基本信息
专利标题 :
一种新型低本底α、β测量仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921991570.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-18
授权号 :
CN211505907U
授权日 :
2020-09-15
发明人 :
杨春华刘红生秦波
申请人 :
武汉谱晰科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区珞南街珞喻路182号
代理机构 :
武汉红观专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张文俊
优先权 :
CN201921991570.6
主分类号 :
G01T1/20
IPC分类号 :
G01T1/20 G01T1/208 G01T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/20
用闪烁探测器
法律状态
2020-09-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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