一种外圆测量装置
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摘要

本实用新型涉及一种外圆测量装置,包括手柄,所述手柄的上端和下端均成平面,所述手柄的下平面处开有第一凹槽,所述第一凹槽内安装有控制单元,所述第一凹槽的槽口处安装有开关单元,所述手柄的下平面处还安装有显示单元,所述手柄的下平面底部安装有可以打开与关闭的护盖;所述手柄的上平面中间位置开有第二凹槽,所述第二凹槽内安装有激光测距仪,所述手柄的上平面对称安装有一对检测板,单个检测板成折弯型结构,所述检测板的头部为尖脚,两个检测板的尖脚同时安装于手柄的上平面中间位置,并与激光测距仪中心对应,所述检测板的内端面为检测面,检测面上密布分布有接触传感器,两块检测板的夹角为60度。检测方便。

基本信息
专利标题 :
一种外圆测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921997667.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-18
授权号 :
CN210570518U
授权日 :
2020-05-19
发明人 :
邵伟平
申请人 :
无锡职业技术学院
申请人地址 :
江苏省无锡市高浪西路1600号
代理机构 :
无锡华源专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
聂启新
优先权 :
CN201921997667.8
主分类号 :
G01B11/08
IPC分类号 :
G01B11/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/08
用于计量直径
法律状态
2020-05-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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