测试连接器的校准器
授权
摘要
本实用新型涉及一种测试连接器的校准器，包括中空且顶部敞开的壳体、挡块、对接块和固定在对接块上的校准端头，所述挡块挡住壳体上敞开的顶部开口，所述壳体上开设有第一卡口，所述对接块上设置有第一凹陷部，所述第一凹陷部与第一卡口卡接。当校准端头发生老化时操作者可便捷地对测试端进行更换而无需更换整个校准器，本实用新型具有可减少材料浪费的效果。
基本信息
专利标题 ：
测试连接器的校准器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922005930.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-19
授权号 ：
CN211086572U
授权日 ：
2020-07-24
发明人 ：
马云勇
申请人 ：
深圳市速联技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明办事处下村社区第五工业区11号3-4楼
代理机构 ：
北京维正专利代理有限公司
代理人 ：
诸炳彬
优先权 ：
CN201922005930.7
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2020-07-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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