基准辅助延伸测量尺

授权

摘要

本实用新型提供一种基准辅助延伸测量尺，包括：测量部分和固定部分，测量部分为中空的矩形结构，固定部分包括互相垂直的2条边，且固定部分的2条边与测量部分的矩形结构的边平行。互相垂直的2条边的相对的内部表面设有磁石槽，用于放置磁石，用于吸附在加工工件上，使得基准辅助延伸测量尺不易掉落。有效解决寻边器与加工工件干涉时，基准边无法测量的问题；再利用基准辅助延伸测量尺的固定部分的2条垂直的边，建立直角坐标系，从而计算加工工件的中心位置，计算方法简单可靠，实用性强。另外，基准辅助延伸测量尺结构简单，加工方便，容易使用。

基本信息

专利标题：

基准辅助延伸测量尺

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922013808.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-20

授权号：

CN210997809U

授权日：

2020-07-14

发明人：

高峰

申请人：

华域视觉科技（上海）有限公司

申请人地址：

上海市嘉定区叶城路767号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201922013808.4

主分类号：

B23Q17/22

IPC分类号：

B23Q17/22