一种多功能测量基准器
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摘要

一种多功能测量基准器涉及光学精密机械测量技术领域,解决了现有过程繁琐、操作不便、精度低等问题,包括基准底座、反射镜面、角锥棱镜、摄影测量编码标识以及摄影测量点;基准底座包括安装面、第一表面、第二表面和第三表面,第一表面、第二表面和第三表面相互垂直;反射镜面至少为两个,其中两个反射镜面相互垂直,相互垂直的反射镜面用于经纬仪自准直;角锥棱镜、反射镜面、摄影测量编码标识以及摄影测量点均设置在基准底座除安装面外的表面上,基准底座上设有摄影测量点的表面也设有摄影测量编码标识,摄影测量编码标识用于标识摄影测量点所在表面。本发明稳定性测量准确度高,精密装调方便,测量和建立测量坐标系简捷。

基本信息
专利标题 :
一种多功能测量基准器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112902935A
申请号 :
CN202110123142.7
公开(公告)日 :
2021-06-04
申请日 :
2021-01-29
授权号 :
CN112902935B
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
罗敬徐天晓张晓辉何煦
申请人 :
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 :
吉林省长春市东南湖大路3888号
代理机构 :
长春众邦菁华知识产权代理有限公司
代理人 :
宁晓丹
优先权 :
CN202110123142.7
主分类号 :
G01C15/00
IPC分类号 :
G01C15/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C15/00
不包括在G01C1/00至G01C13/00各组的测量器械或部件
法律状态
2022-06-14 :
授权
2021-06-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01C 15/00
申请日 : 20210129
2021-06-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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