一种幅相测试设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种幅相测试设备,包括第一箱体和第二箱体,所述第一箱体与第二箱体之间平行装配在一起,第二箱体的表面开口设置,第二箱体与第一箱体之间连通,第二箱体内部安装一运动模组,运动模组上端延伸至外界,并横向安装一固定杆,固定杆延伸至第一箱体的上端并安装一用于检测产品的测试探头,第一箱体的上端安装一块以上的移动台板,移动台板上均安装一块以上用于定位产品的产品定位块,第一箱体的右侧安装一放置插接线掉落的挂线架。本实用新型结构简单,无需人工夹持,通过双极化探头进行快速精准的测试,实现阵列天线单元的幅度和相位的快速检测,同时能实现天线近场垂直面方向图快速测量功能。

基本信息
专利标题 :
一种幅相测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922065945.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-26
授权号 :
CN211955666U
授权日 :
2020-11-17
发明人 :
叶景盛陆玉明罗光盛陆蒙陆秀伟陆邦振
申请人 :
深圳市盛泰智能装备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区沙井街道共和社区共和第四工业区A4栋A5单元二层
代理机构 :
深圳市卓科知识产权代理有限公司
代理人 :
赵辉丽
优先权 :
CN201922065945.2
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2020-11-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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