一种用于金属阳极氧化处理后的疮孔检测装置
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摘要
一种用于金属阳极氧化处理后的疮孔检测装置，包括检测箱，所述检测箱前侧的下端开设有方形的开口，所述检测箱内部的底部安装有抽屉滑轨，所述抽屉滑轨的活动端朝向开口方向延伸，所述抽屉滑轨的活动端上安装有检测台，所述检测台的前壁安装有挡板，所述挡板边沿与开口边沿相匹配，并且挡板前还安装有拉手；还包括检测系统，所述检测系统包括红外光敏电阻、红外光源、控制模块和操作显示屏，所述红外光源安装在检测箱内部的上端中心位置处，红外光源的发送端竖直朝向检测台；所述红外光敏电阻安装在检测箱内部的上端，并且红外光敏电阻围绕在红外光源的周围；所述控制模块安装在检测箱内部的上端，并且位于红外光源的上方。
基本信息
专利标题 ：
一种用于金属阳极氧化处理后的疮孔检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922089237.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-28
授权号 ：
CN211206246U
授权日 ：
2020-08-07
发明人 ：
柳斌闵波
申请人 ：
广东昭明电子集团股份有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市长安镇荣锋街3号1号楼
代理机构 ：
广东荣海知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黎理
优先权 ：
CN201922089237.2
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2020-08-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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