挡片测温组件、挡片测温机构以及热成像测温设备
授权
摘要
本实用新型提供的一种挡片测温组件、挡片测温机构以及热成像测温设备，所述挡片测温组件包括支架以及温度传感器，所述支架构造为具有开口的部分封闭结构，所述温度传感器用于检测所述挡片的温度，所述温度传感器通过所述开口容置于所述支架内并被所述支架部分围设，该方案相对于现有技术，温度传感器对置于支架内的挡片进行测温时，支架可以隔绝周围发热体热辐射的影响，减少外部环境对温度传感器测温的影响，提高了挡片温度测量的准确。
基本信息
专利标题 ：
挡片测温组件、挡片测温机构以及热成像测温设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922116669.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-29
授权号 ：
CN211452607U
授权日 ：
2020-09-08
发明人 ：
黄恒敏温跃明
申请人 ：
浙江大华技术股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区滨安路1187号
代理机构 ：
杭州华进联浙知识产权代理有限公司
代理人 ：
雷志刚
优先权 ：
CN201922116669.8
主分类号 ：
G01J5/00
IPC分类号 ：
G01J5/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2020-09-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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