一种自动开断电老化TFT模组装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种自动开断电老化TFT模组装置，包括开关电源模块和TFT模块，所述开关电源模块包括电源、微处理器单元及继电器单元，所述微处理器单元的输出端与所述继电器单元电连接，所述微处理器单元及所述继电器单元分别与所述电源连接，所述继电器单元与所述TFT模组连接。通过增加自动开断电模式对线路进行电流冲击，从而显著提升老化不良的检出率，提升客户端质量。侧重于对TFT模组产品的老化检测等，工艺范畴涉及各种TFT模组产品等，TFT模组在无人操作情况下，TFT还能够正常工作起来，不进入绿色模式或者休眠模式，老化过程中，还要能够定时进行开断电。
基本信息
专利标题 ：
一种自动开断电老化TFT模组装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922124357.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-02
授权号 ：
CN211148821U
授权日 ：
2020-07-31
发明人 ：
舒颀杨礼成费三平蔡忠洪王富
申请人 ：
深圳秋田微电子股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区园山街道荷坳金源路39号
代理机构 ：
深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)
代理人 ：
鲍竹
优先权 ：
CN201922124357.1
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-07-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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