一种全自动LED模组检测老化机
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摘要

本实用新型公开一种全自动LED模组检测老化机,包括主框架、变频驱动单元、从动张紧轮、环形双节距输送链、调压箱、多分区运行电路轨道、老化测试小车、LED模组工装、电源模组接线架、分线架、子弹头导电探针,所述主框架两端分别设置有变频驱动单元和从动张紧轮,所述变频驱动单元和从动张紧轮通过环形双节距输送链传动连接,所述主框架旁设置有调压箱,所述调压箱连接到铺设在主框架上的多分区运行电路轨道,所述环形双节距输送链上挂载有老化测试小车。通过上述方式,本实用新型提供一种全自动LED模组检测老化机,通过模块化框架结构实现大规模和超大规模的LED模组和电源的老化测试,其自动化程度较高,全程无需人工干预,老化测试结果稳定可靠。

基本信息
专利标题 :
一种全自动LED模组检测老化机
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021305364.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-07
授权号 :
CN212781087U
授权日 :
2021-03-23
发明人 :
郑伟陈宁宾
申请人 :
苏州隆久机电有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区木渎镇花苑东路88号4幢202室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021305364.8
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/04  G01R1/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-03-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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