老化检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种老化检测装置，包括：供电电路，其用于对来自外部的交流电进行转换并输出供电电压；时钟驱动电路，其与所述供电电路电连接，并用于在所述供电电路输出的供电电压的作用下输出用于驱动待测器件工作的时钟信号；接口电路，其分别与所述供电电路、所述时钟驱动电路和所述待测器件电连接，并用于向所述待测器件输出所述供电电压和所述时钟信号，以强制驱动所述待测器件工作。通过本实用新型的技术方案，可以实现对待测器件的老化检测，以便尽早筛选出具有早夭风险的产品。
基本信息
专利标题 ：
老化检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122798585.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-15
授权号 ：
CN216411472U
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
李鸽鸽程鹏李艺江辉汤金宽
申请人 ：
长芯盛（武汉）科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区光谷三路196号长飞科技园（二期）201号综合厂房3-4层
代理机构 ：
北京维昊知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
崔旭东
优先权 ：
CN202122798585.4
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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