老化寿命试验用老化板装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种老化寿命试验用老化板装置,其包括老化板体、测试工位以及老化板金手指组,老化板金手指组内包括若干器件连接指体,还包括转接板体,转接板体包括金手指插槽以及转接板金手指组,转接板金手指组内包括若干转接连接指体,转接板金手指组内的转接连接指体与老化板金手指组内的器件连接指体一一对应,老化板金手指组嵌置在金手指插槽内后,老化板金手指组内的器件连接指体通过转接板体能与转接板金手指组内相应的转接连接指体适配连接,以通过转接板金手指组内的转接连接指体与器件连接指体配合能满足对测试工位上测试器件的测试连接需要。本实用新型能适应不同封装的测试需要,降低测试成本,使用方便,安全可靠。
基本信息
专利标题 :
老化寿命试验用老化板装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021052331.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-09
授权号 :
CN212410771U
授权日 :
2021-01-26
发明人 :
田昱张文亮孙浩强李文江朱阳军
申请人 :
山东阅芯电子科技有限公司
申请人地址 :
山东省威海市荣成市崂山南路788号
代理机构 :
苏州国诚专利代理有限公司
代理人 :
韩凤
优先权 :
CN202021052331.7
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-01-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN212410771U.PDF
PDF下载