一种光照老化检测装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种光照老化检测装置，包括箱体和门体，门体闭合时，箱体呈封闭态，门体与箱体密封连接；装置还包括设置于箱体内的检测光源，检测光源包括多个灯珠；装置还包括控制器，控制器包括多个控制开关和多个功率调节单元，控制开关、灯珠、功率调节单元一一对应设置；控制器还包括计时单元，计时单元与多个控制开关电连接；装置还包括测试架，测试架包括多层测试台，测试台用于放置待测导光板，弥补了实验室光照老化检测的空白，检测光源的多个灯珠的开闭和功率均可以分别进行调节，以在短时间完成加速光照老化，对导光板的光照老化情况进行评估，进而对导光板的性能进行评价，为后续研发提供参考。
基本信息
专利标题 ：
一种光照老化检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022456072.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-29
授权号 ：
CN213181194U
授权日 ：
2021-05-11
发明人 ：
张恩王冬明
申请人 ：
山西宇皓新型光学材料有限公司
申请人地址 ：
山西省晋中市平遥县段村镇西安社村
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022456072.0
主分类号 ：
G01N17/00
IPC分类号 ：
G01N17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N17/00
测试材料的耐气候，耐腐蚀，或耐光照性能
法律状态
2021-05-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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