一种液晶模组老化测试系统
公开
摘要
本发明涉及一种液晶模组老化测试系统。该液晶模组老化测试系统包括：老化测试板，用于与液晶模组连接，并对液晶模组进行老化测试；老化测试板具有WiFi模块；及老化监控服务器，WiFi模块通讯连通，WiFi模块用于向老化监控服务器传送老化测试数据，老化监控服务器用于对液晶模组的老化测试数据进行实时监控。上述液晶模组老化测试系统，液晶模组与老化测试板连接之后进行老化测试，老化测试过程中，利用WiFi模块实时地将老化测试数据传送至老化监控服务器，从而利用老化监控服务器对液晶模组的老化测试过程进行实时监控，能够及时发现器件不良现象，有利于避免液晶模组和老化测试板损坏，排除由于发热而产生明火的安全隐患。
基本信息
专利标题 ：
一种液晶模组老化测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563882A
申请号 ：
CN202210061821.0
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-01-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张登琦张郁川李璟林
申请人 ：
业成科技（成都）有限公司;业成光电（深圳）有限公司;业成光电（无锡）有限公司;英特盛科技股份有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区西区合作路689号
代理机构 ：
成都希盛知识产权代理有限公司
代理人 ：
温国杰
优先权 ：
CN202210061821.0
主分类号 ：
G02F1/13
IPC分类号 ：
G02F1/13
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如，转换、选通或调制；非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的，例如单位液晶显示单元
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
