一种芯片检测设备的顶升检测组件
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片检测设备的顶升检测组件,包括检测组件安装板、检测组件水平导轨、检测组件水平气缸、检测组件水平滑动安装板、检测组件竖直安装板、检测组件竖直导轨、检测组件顶升丝杆螺母副及检测组件顶升驱动电机,检测组件竖直导轨上设置有检测组件竖直滑动安装座,检测组件顶升驱动电机的输出端连接到检测组件顶升丝杆螺母副的丝杆一端,检测组件顶升丝杆螺母副的螺母连接到检测组件竖直滑动安装座上,检测组件竖直滑动安装座上固定安装有芯片检测装置。该种芯片检测设备的顶升检测组件具有结构简单、实施容易、性能稳定可靠的优点,在应用时可提升芯片检测的精度及准确度,检测效率更高。
基本信息
专利标题 :
一种芯片检测设备的顶升检测组件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922140357.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-02
授权号 :
CN211627745U
授权日 :
2020-10-02
发明人 :
彭义青冼平东黄明春王量容金波吴述林黄为民周厚利黎启造冯秀祥
申请人 :
深圳市泰克光电科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道河东航城工业区1栋A6楼厂房
代理机构 :
深圳市深可信专利代理有限公司
代理人 :
丘杰昌
优先权 :
CN201922140357.0
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-10-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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