碳化硅单晶片电阻连续自动检测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种碳化硅单晶片电阻连续自动检测系统,包括有机架、振动给料器、自动上料装置、检测装置、负压接料装置、接料装置和数控系统；自动上料装置转动设置在机架上；振动给料器设置在机架一侧；振动给料器连接至自动上料装置；检测装置设置在自动上料装置另一侧；自动上料装置将碳化硅晶片转送至检测装置进行检测；负压接料装置设置在自动上料装置上方；接料装置设置在自动上料装置下方；检测装置、负压接料装置和接料装置沿自动上料装置的转动方向依次分布；数控系统连接自动上料装置、检测装置和负压接料装置；本实用新型的技术方案解决现有的常用电阻测定装置不能连续且自动地对碳化硅晶片进行测定导致检测效率低的问题。
基本信息
专利标题 ：
碳化硅单晶片电阻连续自动检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922171346.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-06
授权号 ：
CN211826242U
授权日 ：
2020-10-30
发明人 ：
马红彬宛鹏
申请人 ：
河南雅利安新材料有限公司
申请人地址 ：
河南省郑州市荥阳市金寨乡金寨村
代理机构 ：
成都市鼎宏恒业知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
吴锦德
优先权 ：
CN201922171346.9
主分类号 ：
G01R27/08
IPC分类号 ：
G01R27/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/08
通过测量电流和电压来测量电阻
法律状态
2020-10-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
