一种解析度仪的水平调节装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种解析度仪的水平调节装置，包括测试箱、测试镜头、置物台和大理石台，所述测试箱的后侧连接有立柱，所述测试镜头的右侧上方设置有第一水平调节块和第二水平调节块，所述测试镜头的左侧上方设置有第一辅助弹簧，所述大理石台设置在测试箱的下方，所述反射座的顶端连接有底座连接块，所述底座连接块通过第三水平调节块和第二辅助弹簧与反射镜连接板连接，所述置物台安装在反射镜头的上方。该解析度仪的水平调节装置，能够对测试镜头和反射镜头进行调节，便于保证水平调整的精度，且通过简单的转动，就能够对测试镜头和反射镜头进行调整，方便操作，且调节装置为常用零件，便于节约成本。
基本信息
专利标题 ：
一种解析度仪的水平调节装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922173359.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-06
授权号 ：
CN211374484U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
李宇明
申请人 ：
深圳市粤源智造科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区横岗街道保安社区坳二路30号A栋4楼一部分
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922173359.X
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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