一种高对准精度的恒温荧光检测设备
授权
摘要
本实用新型提供了一种高对准精度的恒温荧光检测设备，属于荧光检测仪技术领域。该一种高对准精度的恒温荧光检测设备包括恒温荧光检测仪主体、检测平台组件和检测盖板组件。所述检测平台组件包括检测台板和试管放置板，所述检测台板安装在所述恒温荧光检测仪主体上表面，所述试管放置板嵌接在所述检测台板内部。本实用新型采取结束的同时，伸缩件带动行程开关向远离接触板一侧移动，行程开关脱离接触板，减速电机带动光学探头继续移动至下一组试管上方进行样品采取检测，直至多组样品检测结束，此方式采用接触式供电和断电的方式，提高光学探头的对准速度，即减少整体检测使用时间，提高整体检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种高对准精度的恒温荧光检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922183224.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-06
授权号 ：
CN211402145U
授权日 ：
2020-09-01
发明人 ：
许中秋李祖鹏
申请人 ：
杭州如隆自动化科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市杭州经济技术开发区4号大街28号3幢301室
代理机构 ：
北京沁优知识产权代理有限公司
代理人 ：
林捷达
优先权 ：
CN201922183224.1
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2020-09-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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