一种检测表面杂物测试装置
授权
摘要
本实用新型提出一种检测表面杂物测试装置包括机架、驱动装置、上模组和下模组，驱动装置、上模组和下模组均安装在机架内，机架包括支撑架、安装平台，支撑架固定安装在安装平台上；支撑架包括支撑板和多个导柱，驱动装置固定安装在支撑板上方，驱动装置驱动上模组在导柱上滑动；机架还包括防护组件，防护组件包括防护罩，防护罩固定安装在支撑架与安装平台之间，防护组件还包括限位柱和固定件，限位柱与固定件固定连接，限位柱凹设有插槽，插槽用于插入插板，限位柱与固定件均安装在下模组前，通过防护罩、限位柱和插板能够减少外部环境的干扰，进而增加测试的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种检测表面杂物测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922191773.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-09
授权号 ：
CN211741347U
授权日 ：
2020-10-23
发明人 ：
潘立
申请人 ：
深圳顺普达科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区华兴路26号天汇大厦410
代理机构 ：
深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司
代理人 ：
罗华
优先权 ：
CN201922191773.3
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-10-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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