一种中子反射谱仪的光路结构
授权
摘要

本发明公开了一种中子反射谱仪的光路结构,主要包括沿着入射中子束方向顺序依次放置在精密花岗岩地面入射臂、样品台和反射臂,所述入射臂,包括第一狭缝、第二狭缝、聚焦导管、第三狭缝、第二平移台、第二平台;所述样品台,包括低温恒温器、底座、上夹板、下夹板、样品、移动板、升降机构,所述反射臂,包括反射臂工作台、第四狭缝、第一支撑柱、第三平移台、升降台,入射臂与样品台中设置有滑轮,可以使设备方便搬运,避免了搬运困难,且入射臂工作台中设置有储纳箱,可以存放维护工具,节省了维护难度,在不使用设备的时候,将反射臂工作台上的设备存放到反射臂工作台中,可以避免空气中的水分与设备发生腐蚀情况。

基本信息
专利标题 :
一种中子反射谱仪的光路结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922196200.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-10
授权号 :
CN213022917U
授权日 :
2021-04-20
发明人 :
陈立甲
申请人 :
东莞理工学院
申请人地址 :
广东省东莞市松山湖科技产业园区大学路1号
代理机构 :
广东勤诺律师事务所
代理人 :
张雪华
优先权 :
CN201922196200.X
主分类号 :
G01N23/00
IPC分类号 :
G01N23/00  G01N23/02  G01N23/207  G01T3/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2021-04-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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