多光源光学检测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种多光源光学检测系统，包含：一平台，承载一检测物；多个光源装置，每一光源装置以不同于该检测物的入射角配置各自的固定位置；多个取像装置，分别对应该等多个光源装置以该检测物的不同反射角配置各自的固定位置；以及一图像处理单元，电连接该等多个取像装置，且接收该等多个取像装置所拍摄的检测影像，据以判断该检测物的瑕疵状态。
基本信息
专利标题 ：
多光源光学检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922196285.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-10
授权号 ：
CN211179500U
授权日 ：
2020-08-04
发明人 ：
李彦志
申请人 ：
联策科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾桃园市桃园区龙寿街81巷10号
代理机构 ：
北京汇信合知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈红
优先权 ：
CN201922196285.1
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/88
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-08-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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