核素滞留量测量系统
授权
摘要

本申请涉及一种核素滞留量测量系统。该核素滞留量测量系统包括:移动装置,沿第一方向可移动;转动装置,设置于移动装置上,转动装置的转动轴沿第二方向延伸,且能够随移动装置沿第一方向移动;半导体探测装置,与转动装置连接,且能够随转动装置转动,半导体探测装置包括探头,探头用于探测目标物体内具有几何形状的核素的能峰与净峰面积;测距模块,与探头连接,用于测量探头与核素之间的距离;电控单元,与半导体探测装置和测距模块电连接,电控单元根据核素滞留量的几何形状及探头与核素之间的距离,建立分析模型,计算不同能峰对应的探测效率,以获得核素滞留的成分及其质量。本申请可以实现核素滞留量的定量测量。

基本信息
专利标题 :
核素滞留量测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922267566.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-17
授权号 :
CN211955844U
授权日 :
2020-11-17
发明人 :
李多宏周志波牛顺利刘立坤林俊李子威肖刚杨丽芳谭西早纪建臣武朝辉
申请人 :
国家核安保技术中心;中国科学院上海应用物理研究所;北京中智核安科技有限公司
申请人地址 :
北京市房山区长阳镇阜盛大街67号院
代理机构 :
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 :
刘敏
优先权 :
CN201922267566.1
主分类号 :
G01T1/24
IPC分类号 :
G01T1/24  G01T7/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/24
用半导体探测器
法律状态
2020-11-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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