一种电子分析天平
专利权的终止
摘要
一种电子分析天平,属于电子分析天平技术领域,本实用新型为了解决传统电子分析天平的防风罩结构复杂,不方便安装的问题。电子天平本体前端设有显示屏,电子天平本体的上端面开有矩形插槽,电子天平本体上的称量盘位于矩形插槽所围成的矩形内,矩形防风罩与矩形插槽相配合,且矩形防风罩插在矩形插槽内,矩形插槽的侧壁上开有至少一个凹槽,凹槽内设有压紧块。本实用新型的一种电子分析天平能够快速完成防风罩的安装,结构简单,简化操作流程,提高工作效率。
基本信息
专利标题 :
一种电子分析天平
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922267850.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-17
授权号 :
CN210741659U
授权日 :
2020-06-12
发明人 :
刘艳平
申请人 :
刘艳平
申请人地址 :
黑龙江省哈尔滨市香坊区珠江路5号
代理机构 :
哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
曹徐婷
优先权 :
CN201922267850.9
主分类号 :
G01G21/28
IPC分类号 :
G01G21/28 G01G1/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01G
称量
G01G21/00
称量仪器的零部件
G01G21/28
框架;外罩
法律状态
2021-11-26 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01G 21/28
申请日 : 20191217
授权公告日 : 20200612
终止日期 : 20201217
申请日 : 20191217
授权公告日 : 20200612
终止日期 : 20201217
2020-06-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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