一种电子分析天平

授权

摘要

本实用新型涉及一种电子分析天平，其包括本体，所述本体远离桌面的一端设置有外罩，所述外罩包括四个竖直板和罩盖，四个所述竖直板的侧壁铰接成一个框体，所述罩盖设置于所述框体的上端，所述本体的上端于所述框体的对称位置开设有环形槽，所述框体朝向地面的一端卡接于所述环形槽内，所述本体远离桌面的一端于所述环形槽远离所述本体中心的一侧开设有凹槽，所述凹槽内滑动连接有限位块，所述限位块穿设过所述环形槽与所述竖直板于所述本体内。本实用新型具有便捷运输，避免外罩在移动时碰撞损坏的效果。

基本信息

专利标题：

一种电子分析天平

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922495675.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-31

授权号：

CN211234667U

授权日：

2020-08-11

发明人：

戴润强谢光雄戴琳

申请人：

湖南一品佳餐饮管理有限公司

申请人地址：

湖南省长沙市开福区沙坪街道中青社区大明大道317号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201922495675.9

主分类号：

G01G19/00

IPC分类号：

G01G19/00 G01G21/00 G01G21/28