分析天平
授权
摘要
本实用新型涉及分析天平技术领域，且公开了一种分析天平，包括外箱，所述外箱内部固定安装有恒温箱，所述恒温箱底部固定安装有干燥箱，所述恒温箱底部两侧固定安装有支撑座，所述支撑座顶部活动安装有底座，所述底座上端固定安装有秤盘，所述底座前端固定安装有显示屏，所述底座上端固定安装有防尘罩，所述底座底部开设有收纳槽，所述收纳槽内部活动安装有转轮，所述转轮底部固定安装有转杆，所述转杆底部活动安装有滑轮，所述外箱左侧活动安装有盖门，所述盖门右侧固定安装有保温垫，所述底座底部活动安装有轮子，所述转轮内部固定安装有弹簧，该设备可以更好的保存分析天平，同时使用也很便捷。
基本信息
专利标题 ：
分析天平
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021007741.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-04
授权号 ：
CN212110299U
授权日 ：
2020-12-08
发明人 ：
周钟平梁艳廷
申请人 ：
武汉蓝锐达信息技术有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市洪山区南李路27号圣爱米伦科研部分A栋3单元11层8室
代理机构 ：
北京化育知识产权代理有限公司
代理人 ：
尹均利
优先权 ：
CN202021007741.X
主分类号 ：
G01G23/00
IPC分类号 ：
G01G23/00 G01G23/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01G
称量
G01G23/00
称量仪器的辅助装置
法律状态
2020-12-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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