一种用于片式电解电容的测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种用于片式电解电容的测试装置，包括：电容运动轨道和上下探针阵列。电容运动轨道设有多对与两个电极位置对应的探针孔。上下探针与探针孔对应，并上下移动。上探针和下探针均由多段不同直径的针体组成，针头的第一直径大于针芯的第二直径。上探针和下探针的针头均朝向探针孔的上表面；在无电容的空压情况下，上探针的针头低于或等于探针孔的上表面，下探针的针头高于探针孔的上表面，上探针和下探针相接触并互相施力；在有电容的测试情况下，上探针向电极的上表面施加下压的力，下探针向电极的下表面施加上顶的力。本实用新型以上下探针阵列的形式提高了测试速度，有效穿透电极上下表面的氧化层或污物层，提高了测试精度。
基本信息
专利标题 ：
一种用于片式电解电容的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922329090.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-23
授权号 ：
CN211318635U
授权日 ：
2020-08-21
发明人 ：
杨晔
申请人 ：
江苏伊施德创新科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新区泰山路2号国际科技合作园C楼E-4座
代理机构 ：
南京北辰联和知识产权代理有限公司
代理人 ：
王俊
优先权 ：
CN201922329090.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/073 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-08-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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