一种可控硅调光器检测装置、电路
授权
摘要
本实用新型公开了一种可控硅调光器检测装置、电路，所述可控硅调光器检测电路包括整流桥、泄放模块、检测模块和负载；整流桥输出线电压至泄放模块和负载；泄放模块根据线电压输出采样信号至检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为其提供泄放电流；检测模块根据采样信号与预设信号确定线网未设置可控硅调光器时，控制泄放模块关断，当确定线网有设置可控硅调光器时，控制泄放模块持续导通，采样信号的电压在线电压大于泄放模块的启动电压时恒定，在线电压小于所述启动电压时随线电压减小，进而实现了检测可控硅调光器的有无，以达到节约能耗的目的；同时，可有效避免检测结果受线网波动的影响并降低了成本。
基本信息
专利标题 ：
一种可控硅调光器检测装置、电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922337568.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-20
授权号 ：
CN211698017U
授权日 ：
2020-10-16
发明人 ：
叶羽安王文攀麦炎全
申请人 ：
深圳市晟碟半导体有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区中山园路1001号国际E城D1栋2D
代理机构 ：
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王永文
优先权 ：
CN201922337568.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R19/165
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-10-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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