一种可控硅调光器的检测电路、装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种可控硅调光器的检测电路、装置，检测电路包括线电压采样模块、峰值电压采样模块、平均电压采样模块、判断模块和泄放模块；线电压采样模块对线电压进行采样后分别输出采样电压至峰值电压采样模块和平均电压采样模块；峰值电压采样模块根据采样电压输出第一比较电压至判断模块，平均电压采样模块根据采样电压输出第二比较电压至判断模块；判断模块用于比较第一比较电压和第二比较电压，并根据比较结果输出控制信号控制泄放模块导通或断开；泄放模块用于在导通时为可控硅调光器提供泄放电流，本实用新型能够有效解决当线网电压波动引起电压平均值变化而参考电压不变化时可控硅调光器检测结果不可靠的问题，提高检测的准确性。

基本信息

专利标题：

一种可控硅调光器的检测电路、装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021721954.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-13

授权号：

CN212305724U

授权日：

2021-01-05

发明人：

叶羽安邓迅升王文攀

申请人：

深圳市晟碟半导体有限公司

申请人地址：

广东省深圳市南山区中山园路1001号国际E城D1栋2D

代理机构：

深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

谢松

优先权：

CN202021721954.9

主分类号：

H05B45/36

IPC分类号：

H05B45/36 G01R31/00 H05B45/345