一种可在冻融循环中测试平板材料电磁波反射率的装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种可在冻融循环中测试平板材料电磁波反射率的装置，它采用冷凝液制冷及油浴达到双向调节温度功能，且可使测试平台温度能达到冰点以下，同时保证不受其他非温度原因干扰的条件下测量温度变化过程中的材料电磁波反射率。本实用新型简单易行，为探究材料在长时间温度循环变化如冻融循环时电磁波反射率变化规律奠定基础。
基本信息
专利标题 ：
一种可在冻融循环中测试平板材料电磁波反射率的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922355850.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-25
授权号 ：
CN212275633U
授权日 ：
2021-01-01
发明人 ：
李庆华刘鑫沈亦农徐世烺
申请人 ：
浙江大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 ：
浙江杭州金通专利事务所有限公司
代理人 ：
刘晓春
优先权 ：
CN201922355850.4
主分类号 ：
G01N23/20
IPC分类号 ：
G01N23/20 G01R31/00 B01L7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
法律状态
2021-01-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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