一种用于V波段和W波段的材料电磁波反射率测试系统
授权
摘要

本实用新型涉及反射率测试技术领域,提供一种用于V波段和W波段的材料电磁波反射率测试系统,包括:测试箱、矢量网络分析仪和工作站;所述测试箱分为顶层、中层和底层;所述测试箱的底层内部各面布满吸波材料,所述测试箱的底层内设置用于放置被测物的支架;所述测试箱的底层的顶面设置发射天线和接收天线;所述测试箱的中层内设置输出扩频模块和输入扩频模块;所述输出扩频模块与发射天线电连接,所述输入扩频模块与接收天线电连接;所述测试箱的顶层内设置输出驱动模块和输入驱动模块。本实用新型能够将各设备分层放置,提高了系统集成化,方便维修维护和移动运输,并提供物理保护和微波防护。

基本信息
专利标题 :
一种用于V波段和W波段的材料电磁波反射率测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123021702.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-03
授权号 :
CN216484716U
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
苏广源
申请人 :
大连东信微波技术有限公司
申请人地址 :
辽宁省大连市甘井子区辛寨子街道砬子山村
代理机构 :
大连大工智讯专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
崔雪
优先权 :
CN202123021702.2
主分类号 :
G01N23/20008
IPC分类号 :
G01N23/20008  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
法律状态
2022-05-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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