一种探测器光响应测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种探测器光响应测试装置，所述装置支撑底座的上端外表面固定连接有一号独立式插座、二号独立式插座与LED光源，所述一号独立式插座位于LED光源的一侧，所述二号独立式插座位于LED光源的另一侧，所述一号独立式插座的内部设置有第一卡栓与第一直插架，所述第一卡栓位于第一直插架的一侧，所述第一卡栓的外壁设置有一号螺纹，所述二号独立式插座的内部设置有第二直插架与第二卡栓。本实用新型所述的一种探测器光响应测试装置，设有可控LED光源与便拆装固定座，能够通过下方的可控LED光源为感光面向下式探测器提供均匀的模拟光源，可以精确的得到探测器的光响应能力，带来更好的使用前景。
基本信息
专利标题 ：
一种探测器光响应测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922357896.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-25
授权号 ：
CN211373827U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
商海明李超穆亚泉王伟张鲁
申请人 ：
芯晟捷创光电科技（常州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省常州市西太湖科技产业园长扬路9号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922357896.X
主分类号 ：
G01J1/00
IPC分类号 ：
G01J1/00 G01J1/08 G01T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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