本发明涉及测试设备领域，更为具体来说，本发明涉及一种探测器响应度测试结构，该探测器响应度测试结构包括第一导光单元、第二导光单元、第一传光件和第二传光件，第一导光单元和第二导光单元均用于接收和输出光信号，第一导光单元与第二导光单元光连接，第一导光单元靠近第二导光单元的一端与第一传光件的一端光连接，第二导光单元靠近第一导光单元的一端与第二传光件的一端光连接。由于探测器响应度测试结构在测试过程中并未改变，只需更改光的输入位置即可，可以提高光探测器响应度测试的效率，且第一导光单元和第二导光单元的插损在计算时可以抵消，可以提高光探测器响应度测试的精确度。