一种磁瓦内弧面检测装置

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摘要

本实用新型公开了一种磁瓦内弧面检测装置，包括：第一检测组件、第二检测组件以及第三检测组件，第一检测组件设置为两组，包括第一检测支架、第一检测相机以及第一检测光源，第一检测组件用于对所述磁瓦内弧面的两端及弧面弓高进行拍照取像检测；第二检测组件包括第二检测支架、第二检测相机以及第二检测光源，第二检测组件用于对所述磁瓦的三分之一个内弧面进行拍照取像检测；第三检测组件包括第三检测支架、第三检测相机以及第三检测光源，第三检测组件用于对所述磁瓦的整个内弧面进行拍照取像检测。本实用新型的磁瓦内弧面检测装置，从不同角度对内弧面进行检测，覆盖了内弧面位置产生的各种位置的开裂、杂质、掉角等缺陷。

基本信息

专利标题：

一种磁瓦内弧面检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922392108.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-27

授权号：

CN211528192U

授权日：

2020-09-18

发明人：

张伟

申请人：

苏州香农智能科技有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市工业园区若水路388号F201

代理机构：

苏州广正知识产权代理有限公司

代理人：

王艳

优先权：

CN201922392108.0

主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

G01N21/01 G01N21/954