一种晶体振荡器测试装置
授权
摘要
本发明公开了一种晶体振荡器测试装置，该装置包括振动测试台，还包括夹具和至少一个印刷电路板，所述夹具固定在所述振动测试台上，所述印刷电路板固定在所述夹具上，所述印刷电路板用于刚性电连接至少一个被测晶体振荡器。本发明通过设计可同时固定至少一个的被测晶体振荡器的夹具，以实现至少一个的被测晶体振荡器的同时实时测试；本发明还通过对被测晶体振荡器的四周进行固定的技术方案，以实现无需拆卸该测试装置而达到实时多次调测的目的。本发明可有效提高测试效率，降低了在振动测试时的外界噪声干扰，提高晶体振荡器测试的准确性，确保振动下被测晶体振荡器相位噪声指标的真实性。
基本信息
专利标题 ：
一种晶体振荡器测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922392418.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-26
授权号 ：
CN212083558U
授权日 ：
2020-12-04
发明人 ：
郄莉彭慧丽于德江乔志峰韩艳菊苏霞
申请人 ：
北京无线电计量测试研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区142信箱408分箱
代理机构 ：
北京正理专利代理有限公司
代理人 ：
付生辉
优先权 ：
CN201922392418.2
主分类号 ：
G01R29/26
IPC分类号 ：
G01R29/26 G01R1/04 G01M7/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/26
噪声值的测量；信噪比的测量
法律状态
2020-12-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
