本实用新型涉及电子元器件测量装置，特别涉及电子元器件金属外壳平面度检测装置，包括底座和检测仪表，底座上安装有支架，支架顶部固定有工作台，所述的工作台中心处设有通孔，所述的检测仪表的检测杆通过螺钉安装在通孔内，检测杆顶端的检测头位于工作台上表面上方；所述的工作台的通孔周围设置有多个触点，所述的触点、检测杆顶端的检测头位于同一平面上。本实用新型先经过基准块校零，然后将产品放置在工作台上，通过销钉限位产品，检测仪表触点接触产品底平面，多点共面，直接读数平面度数值，效率高、精度高。