平面型带红外温度监控折光仪
授权
摘要
本实用新型属于液体、透明固体物质折射率检测装置技术领域，尤其涉及一种平面型带红外温度监控折光仪，其包括壳体、控制器和光学模组，控制器和光学模组设于壳体内；壳体表面设有检测平面，检测平面中心位置设有检测孔；控制器包括显示器；光学模组包括支架，支架内设有倒梯形棱镜，支架前端内壁设有反射面，支架后端由依次设有CMOS光电传感器、光源和电子测温传感器，支架的一侧设有红外温度传感器；倒梯形棱镜位于检测孔的下方，CMOS光电传感器、光源、电子测温传感器和红外温度传感器均与控制器电性连接；本实用新型能实时检测，检测精度高，自身体积小且检测操作简单方便。
基本信息
专利标题 ：
平面型带红外温度监控折光仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922411399.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-28
授权号 ：
CN211317543U
授权日 ：
2020-08-21
发明人 ：
曹能清
申请人 ：
东莞市盛山电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市石碣镇石碣村崇焕中路183号华科城石碣创新科技园15楼1501、1502室
代理机构 ：
深圳市千纳专利代理有限公司
代理人 ：
袁燕清
优先权 ：
CN201922411399.3
主分类号 ：
G01J5/02
IPC分类号 ：
G01J5/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/02
零部件
法律状态
2020-08-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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