本申请公开了一种用于并行测试机台的针座装置，涉及半导体测试领域。该针座装置至少包括接线盒、接线面板、探针卡面板、两组接线柱和两组转换柱；两组接线柱设置在接线面板上；接线盒内设置有两组转换柱，第1组转换柱与第2组转换柱连接；第1组转换柱与探针卡面板连接；第2组转换柱中的第i个转换柱与第1组接线柱中的第i个接线柱、第2组接线柱中的第j个接线柱分别连接，i＝1,2，……,n；j＝1,2，……,n；i+j＝n+1；解决了现有的针座装置需要使用两类探针卡，使用成本高的问题；并行测试机台上使用本申请实施例提供的针座装置，可以只采用一类探针卡，达到提高探针卡的通用性和利用率，降低成本的效果。