一种便于调节观测盘位置的金相工具显微镜
授权
摘要

本实用新型公开了一种便于调节观测盘位置的金相工具显微镜,包括底座、显微镜主体、观测盘主体和圆柱块,所述底座的上表面固定设置有支撑块,且支撑块的前表面固定设置有显微镜主体,所述底座的前表面被第一手轮贯穿,且第一手轮的末端固定连接有第一锥形齿轮,并且第一锥形齿轮的上表面连接有第二锥形齿轮,所述第二锥形齿轮的上表面固定连接有支撑柱。该便于调节观测盘位置的金相工具显微镜,在旋转螺栓时,滚筒会对连接链进行拉扯,通过连接链的拉扯使得,固定板带动圆柱块向下滑动,使得圆柱块对观测盘主体的尾端进行挤压,从而观测盘主体则会通过支撑柱进行旋转,达到调节观测盘主体的角度位置,便于观测。

基本信息
专利标题 :
一种便于调节观测盘位置的金相工具显微镜
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922416441.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-29
授权号 :
CN211374530U
授权日 :
2020-08-28
发明人 :
朱利军
申请人 :
苏州欧米特光电科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区胜浦路258号31幢208室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201922416441.0
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  G01N21/01  G02B21/26  G02B21/34  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2020-08-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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