一种电子元件高度测量装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种电子元件高度测量装置,包括底板,所述底板顶部外壁左侧固定有导向杆,导向杆顶端固定有顶板,顶板顶部外壁固定有电机,所述电机的输出轴底端固定有螺杆,螺杆上螺纹套接有活动板,活动板活动套接在导向杆上,所述活动板底部开有安装槽,安装槽内活动插接有活动杆,活动杆顶端固定有限位块,活动杆底端固定有测量板,活动杆上套接有弹簧,所述测量板活动套接在导向杆上,且测量板和底板上分别固定有对应的红外发射器和红外接收器。本实用新型能够对产生的初始挤压力进行缓冲,避免初始挤压力过大,对测量件夹持时起到缓冲防护作用。

基本信息
专利标题 :
一种电子元件高度测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922444080.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-30
授权号 :
CN211552726U
授权日 :
2020-09-22
发明人 :
张体米树梅
申请人 :
广东银凯电子科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省广州市越秀区越华路116号办公副楼509房
代理机构 :
重庆鼎鼎知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
俞晓明
优先权 :
CN201922444080.0
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  G05B19/05  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-09-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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