一种标准漏孔校准装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种标准漏孔校准装置，包括机壳，所述机壳的内部设置有标准室与被检室，所述标准室与被检室内部均固定安装有漏孔标准器，所述漏孔标准器的底部固定安装有安装管，所述安装管下方位于机壳的外部固定安装有控制台，所述控制台下方位于机壳的内部设置有底腔，所述底腔内固定安装有氦质谱检漏仪；本实用新型通过在内部安装有多个漏孔标准器，可同时对多个器材进行检测，有效提高了该装置的检测效率与检测效果，且安装有标准室温控制按钮与被检室温控制按钮，在进行检测工作时，可通过标准室温控制按钮与被检室温控制按钮对标准室与被检室内的温度进行控制，变换温度了解到温度变化对检测结果的影响，检测较为全面。

基本信息

专利标题：

一种标准漏孔校准装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922448099.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-30

授权号：

CN211291874U

授权日：

2020-08-18

发明人：

王金朋姜伟景晓妮袁强霍瑞豪

申请人：

上海东贝真空设备有限公司

申请人地址：

上海市青浦区崧泽大道9959号6幢

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201922448099.2

主分类号：

G01M3/00

IPC分类号：

G01M3/00