一种定容正压漏孔校准装置及其测试方法
公开
摘要
本申请属于校准检测技术领域，具体涉及一种定容正压漏孔校准装置及其测试方法。本发明提供了一种定容正压漏孔校准装置，包括测量端、参考端，所述测量端和参考端为形状尺寸完全相同的气体管路，所述测量端和参考端之间设置有测量二者之间压差的电容薄膜规。本发明提供了一种定容正压漏孔校准装置及其测试方法，创造性的设置参考端，将传统的绝对压力测试改为测试端和参考端的相对压差测试，极大降低了测试误差，降低了测试结果的不确定度，本装置的测试值不确定度可以达到3％～4％。
基本信息
专利标题 ：
一种定容正压漏孔校准装置及其测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114623979A
申请号 ：
CN202110366383.4
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2021-04-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王金朋袁强韩斌景小妮汤康达霍瑞豪姜伟陈宇航
申请人 ：
上海东贝真空设备有限公司
申请人地址 ：
上海市青浦区胜利路1680号17幢1-2层
代理机构 ：
上海微策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
汤俊明
优先权 ：
CN202110366383.4
主分类号 ：
G01M3/00
IPC分类号 ：
G01M3/00 G01M3/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M3/00
结构部件的流体密封性的测试
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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